Высокочувствительный анализ размеров наночастиц
Для анализа используется метод индуцированной решетки (induced grating — IG), который базируется на новом принципе измерения размеров наночастиц. Этот метод позволяет даже в области одиночных наночастиц получать хорошее соотношение сигнал/шум, благодаря чему возможны стабильные измерения с хорошей воспроизводимостью.
Сопротивляемость загрязнению
Благодаря использованию метода индуцированной решетки (IG), загрязнение исходного образца не оказывает существенного влияния на результаты измерения. Таким образом, даже если образец смешан с некоторым количеством посторонних частиц, информация об анализируемых частицах регистрируется достоверно. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной.
Высокая воспроизводимость
Новый метод измерения (IG) гарантирует высокую воспроизводимость и получение стабильных данных и, следовательно, устраняет недостоверность и неточность при анализе частиц в нано-области. Это является особенно важным при анализе частиц размером меньше 10 нм.
На специальным образом расположенные электроды, помещенные в среду с диспергированными частицами, подается переменное напряжение. Вследствие этого создаётся определённое расположение частиц в жидкости, так называемая индуцированная дифракционная решетка. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют и дифракционная решетка распадается. Сенсоры регистрируют изменение интенсивности света при распаде дифракционной решетки, что позволяет получить данные о распределении частиц по размерам.
Принципиальная особенность метода индуцированной решетки
Высокая точность измерений достигается при помощи специальной конструкции электродов.
Электроды, на которые подается переменное напряжение, также представляют собой дифракционную решетку. Интенсивность рассеянного света, создаваемого этой решеткой ниже интенсивности света рассеиваемого дифракционной решеткой частиц. Если прекратить подачу напряжения, то частицы диффундируют, и дифракционная решетка распадается. При этом интенсивность света, рассеянного частицами, постепенно падает. Для того, чтобы обеспечить точность измерения падения интенсивности света в процессе диффузии, важно разделить дифракционные картины, получаемые от решетки электродов и от рассеяния света частицами. Поэтому электроды сконструированы таким образом, что шаг дифракционной решетки частиц, которая формируется при подаче напряжения, в 2 раза больше шага дифракционной решетки самих электродов (подана заявка на патент).
