Микроскоп применяется при идентификационных исследованиях (баллистических, трасологических) в экспертно- криминалистических лабораториях.
Изображение объектов, наблюдаемых на микроскопе, может быть передано с помощью адаптеров на видеокамеру (в комплект не входит) для визуализации изображения и последующего компьютерного анализа.
Технические характеристики:
| Увеличение микроскопа
при визуальном наблюдении, крат: |
5,4 – 74 (147)* |
| Визуальная насадка — бинокулярная с диоптрийной регулировкой на двух тубусах | обеспечивается:
— наблюдение двух полей зрения раздельно или совмещенных, — плавное перемещение линии раздела, — два порта для установки TV камер |
| Регулируемое межзрачковое расстояние | 48 — 75 |
| Окуляры, крат | 10, 15 |
| Оптическая головка, перемещение:
— в горизонтальной плоскости — в вертикальной плоскости |
ручное
ручное, автоматизированное |
| Расстояние между осями проектирующих систем, мм | 440 |
| Наибольшая разность увеличений проектирующих систем, % | 1,5 |
| Объектив: коррекция, фокус, апертура | апохромат, F=101 A=0,2 |
| Рабочее расстояние объектива, мм | 115 |
| Наибольший диаметр рассматриваемого участка объекта, мм | 33 |
| Система фокусировки | комбинированная |
| Предметные столики:
— перемещение — вращение — наклон столиков, град |
трехкоординатное
в горизонтальной плоскости до 30° на сферическом шарнире |
| Источник света | светодиодные осветители — наклонные, кольцевые |
| Источник питания | сеть переменного тока, 220 В 50 Гц,
блоки питания настольного типа с плавной регулировкой яркости |
| Габаритные размеры, мм | 1290х770х890 |
| Масса, кг | 75 |
* с применением дополнительных линз увеличением 1.6, 2.0.
Микроскоп состоит из двух идентичных проекционных ветвей с самостоятельными осветителями и одной общей частью — оптической головки для визуального наблюдения, фотографирования или видеопроекции.
В комплект микроскопа входит широкий набор столиков и держателей объектов, обеспечивающих возможность установки предметов разнообразных конфигураций и наблюдения их при различных положениях относительно оптических осей микроскопа.
