Характеристики
| Ускоряющее напряжение | 0.02 — 30 кВ |
| Разрешение | 0.6 нм на 30 кВ (STEM), 0.7 нм на 15 кВ, 1.2 нм на 1 кВ, 1.1 нм на 1 кВ при Tandem decel |
| Ток пучка | 3 пА – 20 нА (100 нА опционально) |
| Увеличение | 12 – 2 000 000 |
| Детекторы | Inlens Secondary Electron detector, Everhart Thornley Secondary Electron detector, High efficiency VPSE detector |
| Разрешение изображения | до 32k × 24k px |
| Дополнительно | Столик 5-осевой эвцентрический (X 130 мм, Y 130 мм, Z 50 мм; T от -3° до 70°; R 360° непрерывное) |
ZEISS GeminiSEM 300 позволяет получать четкие изображения наноструктур, чувствительных к электронному пучку образцов, причем быстро и с минимальным повреждением образов. Изображение больших полей зрения с отличным качеством изображения и быстрой скоростью обработки.
Преимущества
Встроенный в камеру ультрамикротом 3View (Gatan)
Микроскопы серии GeminiSEM можно оснастить встроенным в камеру ультрамикротомом 3View (Gatan). Его использование позволяет проводить быстрые и простые 3D гистологические исследования и получать серийные срезы тканей биологических образцов и их изображения (Serial Block-Face Imaging) непосредственно в камере микроскопа, что дает возможность реконструировать получаемые данные в 3D-модели.
Фокальный компенсатор заряда 3View
GeminiSEM можно оснастить дополнительной опцией от ZEISS – фокальным компенсатором заряда 3View. Это устройство для динамической подачи газа в фокальную плоскость образца, предназначенное для минимизации эффекта зарядки поверхности и получения изображений без потери качества.
