Все это позволяет использовать приборы при оценке характеристик изделий из стекла, полупроводниковых материалов, панелей солнечных батарей и плоскопанельных мониторов. Другое распространенное использование SolidSpec-3700 — это анализ запрещенной зоны, оценка характеристик покрытия и оптических компонентов.
особенности:
- Управление спектрофотометрами SolidSpec-3700/3700 DUV обеспечивает программное обеспечение UVProbe.
- В обычных спектрофотометрах фотоэлектронный умножитель, используемый в качестве детектора для ультрафиолетовой и видимой области, и PbS детектор для измерений в ближнем ИК-диапазоне не могут обеспечить высокую чувствительность на границе ближнего ИК и видимого диапазонов. SolidSpec-3700/3700 DUV и SolidSpec-3700i/3700i DUV успешно решает данную проблему.
- Это первые спектрофотометры для УФ-видимого и ближнего ИК-диапазона с тремя детекторами: ФЭУ + полупроводниковые на основе InGaAs и PbS. Полупроводниковые детекторы обеспечивает чрезвычайно высокую чувствительность на границе ближней ИК-области и видимого диапазона.
- Низкие значения шума при работе с малопрозрачными образцами делают данный спектрофотометр незаменимым. Эта особенность неоценима при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
- Дополнительный модуль для прямого измерения в ультрафиолете (Direct detection unit DUV) позволяет расширить данный диапазон от 165 до 3300 нм и проводить измерения без использования интегрирующей сферы.
- Большое отделение для образцов (900 мм x 700 мм x 350 мм) позволяет удобно разместить образцы максимальной величины 700 мм х 560 мм х 40 мм.
- Вертикальное расположение оптического пучка позволяет проводить измерения образцов, расположенных горизонтально.
- Возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310 х 310 мм2.
- Автоматическая система перемещения образца позволяет проводить измерения в предварительно заданной точке образца с одновременной продувкой азотом.
- Достаточное количество необходимых приставок, таких как приставка нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) и др. значительно расширяют области применения данного спектрофотометра.
сферы применения:
- Исследование покрытий: высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение для исследования изменений свойств покрытий.
- Полупроводники: анализ поверхности полупроводников.
- Оптические материалы: высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне.
- Оптика: высокочувствительные измерения от вакуумного УФ до ближнего ИК-диапазона, большое кюветное отделение.
комплект поставки:
В качестве дополнительного оснащения доступны:
- Блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб).
- Устройство прецизионной подвижки, может смещаться по X-Y (для автоматизации измерений).
- Приставка для измерения зеркального отражения.
- Блок для очистки азота.
- Приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах (5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰).
- Интегрирующая сфера.
- Автосамплеры ASX для спектрофотометров.
Доступно дополнительное ПО:
- ПО для расчета фактора защиты от УФ излучения (UPF) и для измерения пропускания солнечного света.
- ПО для измерения цветности.
- ПО для измерения толщины пленок.
